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sten & lex

1982

スペクトル指数
修復ラボ · 光学分析

sten & lexの光学的な指紋

測定された彩度と明暗のコントラストに基づいてプロットされたすべての作品 —— その数値は、画家の筆致を明らかにします。

標本 0 X軸 彩度 Y軸 コントラスト モード スペクトロ・プロット
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測定済み
彩度
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